Comptage particulaire dans l'isolateur - Cinétique de décontamination particulaire

Une note apparaît qui dit que les comptages inférieurs à 10 particules/pied cube ne doivent pas être retenus, sauf si on prélève un grand nombre d'échantillons. C'est la première apparition de considérations liées à la statistique de comptage. En effet, comme les particules passent dans la cellule de mesure suivant des intervalles de temps distribués suivant une loi de Poisson, un comptage n est affecté d'une incertitude statistique Ön.

Mais il restait un problème pratique dans le cas des classes ISO 1 à 4. En effet, la nécessité de compter au moins 20 particules par échantillon mène à des temps de prélèvement parfois excessivement longs. Le Federal Standard 209E et sa traduction dans l'annexe F de l'ISO 14644-1 propose une solution originale: l'échantillonnage progressif. C'est une méthode statistique, plutôt raffinée, qui a été mise au point et utilisée, à partir de 1940, par l'armée américaine pour des contrôles de qualité des composants de matériel militaire. Elle a été adaptée au cas des comptages arrivant à des temps aléatoires par D.W. Cooper, et proposée dans un article d'octobre 1990 du journal of the institute of environmental science. En simplifiant, on dispose de tables qui donnent, pour un empoussiérage égal à la limite de classe, les temps minimal et maximal dans la plage desquels on doit observer le comptage cumulé n (n compris entre 1 et 20). Si le comptage réellement observé sort de ces limites, on peut donc conclure avant d'avoir prélevé 20 particules.

Avec l'apparition de classes de propreté toujours plus exigeantes, il a fallu traiter ce problème, et c'est dans la version 209D que l'on donne la procédure de calcul à appliquer aux résultats expérimentaux. Même si elle apparaît un peu complexe au non-statisticien, il s'agit d'une méthode classique de calcul de l'incertitude sur une moyenne dont on admet qu'elle est distribuée suivant une loi de Student. La moyenne des comptages pour une taille particulaire, accompagnée de sa fourchette d'incertitude est comparée à la valeur limite correspondante.

Durant cette période, les besoins industriels en propreté particulaire (particulièrement en microélectronique) s'affirment, et les performances des appareils de mesure ainsi que leurs conditions d'emploi font des progrès notables. C'est pourquoi le Federal Standard va s'enrichir de classes supplémentaires - par exemple la classe 100 - et va prendre en compte des particules plus fines - à partir de 0,1 µm. On arrive alors aux 13 classes de la version finale 209E dont les 6 les plus propres demandent des comptages à partir de 0,1 µm. L'ISO 14644-1 sera plus raisonnable avec 9 classes dont les 6 premières commencent à 0,1 µm (mais on peut convenir de ne les mesurer qu'à partir de 0,3 µm voire 0,5 µm) et les 3 autres à 0,5 µm.

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6.3.13. Cinétique de décontamination particulaire (ou temps de recouvrance) de l'isolateur.

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Couvrir l´ensemble des paramètres mesurables des salles propres : classes d´empoussièrement, temps de décontamination particulaire, biocontamination de l´air, cascades de pression, recherche de fuites sur filtre HEPA/ULPA, pertes de charge, vitesses d´air, taux de renouvellement horaire, température, hygrométrie, éclairement...

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Dans le contexte du projet Laser MégaJoule (LMJ), l´objectif de cette thèse était l´étude de la pollution particulaire déposée sur un composant optique d´une chaîne laser de puissance. L´intérêt de ce travail était de déterminer l´influence de la pollution dans le processus d´endommagement des composants optiques sous un rayonnement laser intense. Pour cela, nous avons mis en oeuvre deux types d´approches : l´une consacrée à l´étude in situ des particules recueillies dans le prototype du LMJ, la Ligne d´Intégration Laser (LIL) et l´autre reposant sur des particules modèles. Ces deux approches menées parallèlement ont permis de caractériser la pollution particulaire et d´analyser son influence sur l´état de surface des composants optiques soumis à un flux laser intense. Nous avons également étudié le phénomène d´enlèvement des particules de surfaces représentatives des composants optiques transmissif de la LIL sous le rayonnement laser. Bien que les fluences du faisceau de la LIL soient élevées, cet enlèvement de particules est souvent incomplet. Nous avons donc proposé un protocole pour éliminer de façon nette la particule sans fragiliser le substrat.

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Assurer l´obtention de la qualité d´eau de procédé, de l´expression du besoin à la prise en charge des installations de production et de distribution d´eau dans tous les secteurs industriels, établissements de santé et laboratoires concernés par les problèmes de contamination particulaire ou microbiologique ou physico-chimique de l´eau.

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Ce chapitre inclut des démonstrations pratiques, comme par exemple Nettoyage particulaire et biologique , Maîtrise de la contamination croisée dans le cadre de l´utilisation et du conditionnement de la production des poudres.

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Dans un lieu d´exposition renommé, le hall 5 de PARIS EXPO Porte de Versailles, doté d´un espace moderne et convivial sur 5500 m2, se sont réunies 140 entreprises disposant d´un savoir-faire dans les domaines de la maîtrise de la contamination biologique, particulaire, chimique ou moléculaire.

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